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【案例 3】硅晶片上产生的噪音
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解决问题的案例介绍
【案例 3】硅晶片上产生的噪音
课题:在对晶片进行特性评估时,噪声的出现妨碍了数据的准确测量。
解决方案:
建议使用无线电波吸收陶瓷进行定制加工。→ 按晶片尺寸进行设计, 注重坚硬和可在真空环境中使用的优点。→ 有效抑制噪声,测得准确的数据。